意大利Miam固體徑跡蝕刻測量系統
簡(jiǎn)要描述：意大利Miam固體徑跡蝕刻測量系統Politrack是用于固體核徑跡蝕刻探測器的全自動(dòng)掃描測量系統。提供了多種軟件包，適用于CR-39 、LR115 、CR-39快中子和熱中子以及LET光譜測量。
產(chǎn)品型號：Politrack- 廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商
- 更新時(shí)間：2024-06-03
- 訪(fǎng) 問(wèn) 量：1360
意大利Miam固體徑跡蝕刻測量系統Politrack簡(jiǎn)介：
•Politrack® 是用于固體核徑跡蝕刻探測器的全自動(dòng)掃描測量系統。
•Politrack可以讀取 CR-39 和 LR115 探測器。主要應用于各類(lèi)研究，氡和中子的劑量測定。
•Politrack提供了多種軟件包，適用于CR-39 、LR115 、CR-39快中子和熱中子以及LET光譜測量。
•掃描面積可達 205x205 mm2，用戶(hù)可定義探測器尺寸和讀取面積。通過(guò) OCR 讀取探測器ID。
•在掃描開(kāi)始時(shí)執行的自動(dòng)對焦例程可確保在整個(gè)讀取過(guò)程中使圖像聚焦探測器表面。
•形態(tài)分析會(huì )將對來(lái)自不同粒子或具有不同能量的徑跡蝕刻進(jìn)行分類(lèi)，并去除本底噪聲。
•形態(tài)參數中具有濾鏡功能，用戶(hù)可以看到應用濾鏡后會(huì )發(fā)生或出現什么狀態(tài)，并且以此進(jìn)行修改參數范圍或強度。軟件可對與徑跡密度成正比的徑跡重疊進(jìn)行校正。
•輸出數據文件包含所有探測器相關(guān)數據，用戶(hù)可以自定義輸出模板和格式（與Excel*兼容）。
意大利Miam固體徑跡蝕刻測量系統Politrack特點(diǎn)：
•任何尺寸的CR-39和LR115檢測器均可讀數
•精密的徑跡蝕刻形態(tài)分析
•CR-39檢測器老化校正
•LR115殘余厚度校正
•重疊校正
•清晰明確的算法，不存在黑匣子
•操作員可設置和修改所有參數
Politrack固體徑跡蝕刻測量系統應用領(lǐng)域：
•各類(lèi)研究工作
•劑量測定服務(wù)
•氡測量
•快中子
•熱中子
•LET光譜
Politrack固體徑跡蝕刻測量系統操作方法：
用戶(hù)可以定義探測器的類(lèi)型和尺寸，讀取區域以及所有掃描參數。形態(tài)分析可以區分來(lái)自不同粒子和具有不同能量的徑跡，去除本底干擾。
所有算法清晰明確，用戶(hù)可以通過(guò)功能強大的圖形工具輕松修改和/或應用形態(tài)分析濾鏡，并實(shí)時(shí)可視化結果。若需更改參數，可直接使用二次計算工具，而無(wú)需重新讀取探測器。輸出文件包含所有探測器相關(guān)掃描數據，用戶(hù)可自定義輸出模板和格式。
| 蜂窩抗振面包板 | 550x750x40毫米 |
| 三軸微步電機控制板 | |
| 顯微鏡： | 4x +針孔（rad）; 20x +冷凝器（中子） |
| 掃描架 | 200x200 mm |
| Z軸精密線(xiàn)性平臺 | 重復精度+/- 0.5微米 |
| 相機 | 1/3英寸CCD USB3 1280x960 b / n，30幀/秒 |
| XY電動(dòng)掃描臺 | 205x205mm，90mm / sec，分辨率<1微米 |
| LED系統 | 用于樣品背光 |
| 軟件包： | CR-39 ,、 LR115 ,、 CR-39中子/ LET光譜儀 |
